定制SOP16pin-1.27mm芯片測試座參數：

絕緣阻抗:1000mΩMin.At DC 500V

耐電壓:For 1 Minute AtAC 700V

接觸阻抗:30mΩ MAX。at 10mA and 20mV MAX.(Initial)

額定電流:1Amax/Pin.

工作溫度:-45°C~+125°C

使用壽命:大于15,000 Times(Mechanical)

操作力:1.0Kg MAX

結構:翻蓋式

材料:合金+PEEK

2016-4pin晶振燒錄座參數：

支持封裝:2016-4L晶振

支持頻率：≤1Ghz

溫度范圍：無要求

操作力壓：30g每pin，PIN越多需要壓力越大

額定電流：單PIN 1A max

接觸電阻：≤50毫歐

絕緣電阻：DC500V 1000兆歐以上

機械壽命：>1.5萬次

QFN64pin芯片測試座參數：

本體尺寸：8*8mm

引腳中心間距：0.4mm

芯片測試座結構:翻蓋式

Socket殼體：合金+PEEK

探針材料：鈹銅

探針鍍層：鎳金

操作壓力：2.0KGmin，與pin數成正比

接觸阻抗：50mΩmax

耐壓測試：700V AC for 1minute

絕緣阻抗：1000mΩ 500V DC

最大電流：1A

使用溫度：-45°C-+125°C

機械壽命：大于15000次(機械測試)

芯片封裝:PGA
pin腳數:72pin
引腳中心距:1.27mm
IC尺寸:40*32mm
結構類型:翻蓋式
溫度范圍:-45~+125°C

QFP256pin-0.4mm芯片測試座產品特點及規格

Socket本體：合金+PEEK

Socket結構：旋鈕翻蓋式

探針材料：鈹銅

探針鍍層：鎳金

操作壓力：2.OKGmin,pin數越多壓力越大

接觸阻抗：50mΩmax

耐壓測試：700V AC for lminute

絕緣阻抗：1000m500V DC

最大電流：1A

使用溫度：-45°C-+125*C

機械壽命：大于15000次(機械測試)

定制SOP16pin-1.27mm芯片測試座參數：

絕緣阻抗:1000mΩMin.At DC 500V

耐電壓:For 1 Minute AtAC 700V

接觸阻抗:30mΩ MAX。at 10mA and 20mV MAX.(Initial)

額定電流:1Amax/Pin.

工作溫度:-45°C~+125°C

使用壽命:大于15,000 Times(Mechanical)

操作力:1.0Kg MAX

結構:翻蓋式

材料:合金+PEEK

TO247-2L整流器老練插座參數:

殼體材質:PEEK; 

接觸端子:進口鈹銅，觸點鍍厚金 

高溫性能: 

1.120℃-135℃，連續使用大于5000 小時; 

2.135℃-150℃，連續使用時長大于200 小時; 

機械性能:插拔次數50000次; 

額定電流:20A

每pin拔插力度:25g/ pin

SPECIFICATION

1絕緣阻抗:1000mΩMin.At DC 500V

2、耐電壓:For1 Minute At AC 700V

3、接觸阻抗:100mΩ MAX。at 10mA and 20mV MAX.(Initial)

4、支持頻率:1GHz@-ldB(其他高頻需溝通)

5、額定電流:1A max/Pin.

6、工作溫度:-45°C ~+125°C

7、使用壽命:20,000 Times(Mechanical)

8、操作力:1.0Kg MAX

9、中心引腳間距:1.5mm

10、適配芯片尺寸:130.5*28mm

1. 微間距適配:探針需精準匹配0.35mm及以上間距的觸點,同時避免相鄰針尖短路

2. 溫度適應性:工作溫度范圍需覆蓋-55°C至120°C,以應對汽車電子/工業設備等嚴苛環境

3. 高可靠性:插拔次數需超過50萬次,確保測試設備長期穩定運行.

QFN16pin芯片測試座參數：

支持封裝形式:QFN16pin/LCC16pin

本體尺寸：6*6mm

引腳中心間距：1.0mm

Socket殼體：合金+PEEK

探針材料：鈹銅

探針鍍層：鎳金

操作壓力：2.0KGmin，與pin數成正比

接觸阻抗：50mΩmax

耐壓測試：700V AC for 1minute

絕緣阻抗：1000mΩ 500V DC

最大電流：1A

使用溫度：-45°C-+125°C

機械壽命：大于15000次(機械測試)

UFS153pin存儲芯片測試座參數：

實際下針87pin

絕緣阻抗:1000mΩMin.At DC 500V

耐電壓:For 1 Minute At AC 700V

接觸阻抗:100mΩ MAX。at 10mAand 20mV MAX.(Initial)

額定電流:1Amax/Pin.

工作溫度:-55°C ~+125°C

最高測試速率:6Ghz(僅UFS高速測試)，HS400/HS200

操作力:15~30g/Pin MAX

SPECIFICATION

1、絕緣阻抗:1000mΩMin.At DC 500V

2、耐電壓:For 1 Minute AtAC 700V

3、接觸阻抗:30mΩ MAX。at 10mA and 20mV MAX.(Initial)

4、額定電流:1Amax/Pin.

5、工作溫度:-55°C~+175°C

6、測試座結構:藍寶石蓋分離式

7、器件尺寸:2.8*2.9mm

絕緣阻抗：1000mΩ Min.At DC 500V

耐電壓：For 1 Minute AtAC 700V

接觸阻抗：100mΩ MAX。 at 10mA and 20mV MAX.(Initial)

額定電流：1A max/Pin

工作溫度：-55°℃ ~+125°C

最高測試速率：5800Mhz(僅DDR5高速測試)

操作力：15~30g/Pin MAX

支持封裝形式:DDR96pin/BGA96pin

SPECIFICATION
1、絕緣阻抗:1000mΩMin.At DC 500V
2、耐電壓:For 1 Minute At DC 500V
3、接觸阻抗:50mΩ MAX。at 10mA and 20mVMAX.(Initial)
4、額定電流:1Amax/Pin.
5、工作溫度:-45~125℃

UFS153pin存儲芯片測試座參數：

實際下針87pin

絕緣阻抗:1000mΩMin.At DC 500V

耐電壓:For 1 Minute At AC 700V

接觸阻抗:100mΩ MAX。at 10mAand 20mV MAX.(Initial)

額定電流:1Amax/Pin.

工作溫度:-55°C ~+125°C

最高測試速率:6Ghz(僅UFS高速測試)，HS400/HS200

操作力:15~30g/Pin MAX

QFN32pin芯片老化測試座參數：

本體尺寸：5*5mm

引腳中心間距：0.5mm

芯片測試座結構:分離式

Socket殼體：合金+PEEK

探針材料：鈹銅

探針鍍層：鎳金

操作壓力：2.0KGmin，與pin數成正比

接觸阻抗：50mΩmax

耐壓測試：700V AC for 1minute

絕緣阻抗：1000mΩ 500V DC

最大電流：1A

使用溫度：-45°C-+125°C

機械壽命：大于15000次(機械測試)

2512電容測試座參數：

絕緣阻抗:1000mΩMin.At DC 500V

耐電壓:For 1 Minute AtAC 700V

接觸阻抗:50mΩ MAX。at 10mAand 20mV MAX.(Initial)

額定電流:1Amax/Pin.可過6A

工作溫度:-45°C~+155°C

20pin模塊測試座產品特點:
體積小:整體尺寸最小可做到10MM*10MM*6.0MM
可做高頻率測試:最高頻率可達-1~-3dB@30GHz
定位精準度高:加工工藝可達 -+0.01MM
壽命長:壽命可達10萬次(探針機械壽命可達15-20萬)
穩定性高:采用合金材料,耐磨損20-30萬次，耐高低溫-45~+125。
可維護性高:采用模塊化設計,全配件可單獨更換。
可標準化:產品設計周期短,交貨速度快。

SPECIFICATION
1、絕緣阻抗:1000mΩMin.At DC 500V
2、耐電壓:For 1 Minute At DC 500V
3、接觸阻抗:50mΩ MAX。at 10mA and 20mVMAX.(Initial)
4、額定電流:1Amax/Pin.
5、工作溫度:-45~125℃

SPECIFICATION
1、絕緣阻抗:1000mΩMin.At DC 500V
2、耐電壓:For 1 Minute At DC 500V
3、接觸阻抗:50mΩ MAX。at 10mA and 20mVMAX.(Initial)
4、額定電流:1Amax/Pin.
5、工作溫度:-45~125℃